1. Advanced calculations for defects in materials

پدیدآورنده :

کتابخانه: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)

موضوع : Materials, Testing, Mathematical models,Semiconductors, Materials, Testing

رده :
TA410
.
A379
2011

2. Advanced calculations for defects in materials : electronic structure methods

پدیدآورنده :

کتابخانه: کتابخانه مرکز پژوهش متالورژی رازی (طهران)

موضوع : Testing Mathematical models ، Materials,Materials Testing ، Semiconductors

رده :
TA
410
.
A379
2011

3. Beam injection assessment of defects in semiconductors

پدیدآورنده :

کتابخانه: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)

موضوع : Semiconductors- Defects- Congresses,Semiconductors- Defects- Testing

رده :
QC10
.
J1I421
1998

4. CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies

پدیدآورنده :

کتابخانه: کتابخانه زبانهای خارجی و منابع اسلامی (قم)

موضوع : Metal oxide semiconductors, Complementary -- Design. ,Random access memory.,نیمه هادی‌های اکسید فلزی مکمل -- طراحی ,حافظه دسترسی تصادفی

رده :
E-Book
,

5. CMOS SRAM circuit design and parametric test in nano-scaled technologies

پدیدآورنده :

کتابخانه: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)

موضوع : Metal oxide semiconductors, Complementar--Design,Random access memory,Nanoelectronics

رده :
E-BOOK

6. CMOS SRAM circuit design and parametric test in nano-scaled technologies :process-aware SRAM design and test

پدیدآورنده :

کتابخانه: کتابخانه مرکز پژوهش متالورژی رازی (طهران)

موضوع : Design ، Metal oxide semiconductors, Complementary,، Random access memory,، Nanoelectronics

رده :
TK
7871
.
99
.
M44P38
2008

7. CMOS analog circuit design /

پدیدآورنده :

کتابخانه: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)

موضوع : Linear integrated circuits,Metal oxide semiconductors, Complementary

رده :
TK7874
.
A428
2012

8. CMOS analog circuit design [electronic resource]

پدیدآورنده :

کتابخانه: مكتبة ومركز معلومات جامعة الإمام الرضا العالمية (خراسان رضوی)

موضوع : Linear integrated circuits,Metal oxide semiconductors, Complementary,TECHNOLOGY & ENGINEERING / Engineering (General).--bisacsh,TECHNOLOGY & ENGINEERING / Electronics / Circuits / Integrated.--bisacsh

رده :
EB
,
TK7874
.
A428
2012

9. Characterization of metals and materials

کتابخانه: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)

موضوع : Materials,Metal- insulator transitions,Thin film- Surface- Analysis,Foam materials,Metal insulator semiconductors,Altrasonic--Testing

رده :
TA403
.
C35
2013

10. Characterization of wide bandgap power semiconductor devices /

پدیدآورنده :

کتابخانه: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)

موضوع : Electric capacity.,Power semiconductors.,Wide gap semiconductors.,capacitance.,Electric capacity.,network topology.,power semiconductor devices.,Power semiconductors.,semiconductor device models.,TECHNOLOGY & ENGINEERING-- Mechanical.,wide band gap semiconductors.,Wide gap semiconductors.

رده :
QC611
.
8
.
W53
W36
2018eb

11. Debye Screening Length.

پدیدآورنده :

کتابخانه: کتابخانه زبانهای خارجی و منابع اسلامی (قم)

موضوع : Nanostructured materials,موادنانوساختار,a01,a01,Semiconductors -- Testing -- Optical methods.,Thomas-Fermi theory,نیمه‌هادی‌ها -- آزمایش -- روش های نوری

رده :
TA
418
.
9
.
G46D4
2014
E-Book
,

12. Deep-submicron CMOS-ICs :

پدیدآورنده :

کتابخانه: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)

موضوع : Application-specific integrated circuits.,Metal oxide semiconductors, Complementary.,Application-specific integrated circuits.,Metal oxide semiconductors, Complementary.

رده :
TK7871
.
99
.
M44
V44
1998

13. Defect oriented testing for nano metric CMOS vlsi circuits

پدیدآورنده :

کتابخانه: کتابخانه مرکز پژوهش متالورژی رازی (طهران)

موضوع : ، Metal oxide semiconductors, Complementary- Testing,، Metal oxide semiconductors, Complementary- Defects

رده :
TK
7871
.
99
.
M44
S23
2007

14. Design and analysis of integrator-based log-domain filter circuits

پدیدآورنده :

کتابخانه: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)

موضوع : Electric circuit analysis.,Log domain filters -- Design and construction.,Metal oxide semiconductors, Complementary -- Design and construction.

15. Design-for-test and test optimization techniques for TSV-based 3D stacked ICs

پدیدآورنده :

کتابخانه: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)

موضوع : Three-dimensional integrated circuits, Testing,Three-dimensional integrated circuits, Design and construction,Engineering,Circuits and Systems,Processor Architectures,Semiconductors,TECHNOLOGY & ENGINEERING / Mechanical, bisacsh

رده :
E-BOOK

16. Device Physics of Narrow Gap Semiconductors

پدیدآورنده :

کتابخانه: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)

موضوع : TESTING& ELECTRONIC|ENGINEERING, MULTIDISCIPLINARY|MATERIALS SCIENCE, CHARACTERIZATION &ENGINEERING, CIVIL|ENGINEERING, ELECTRICAL

رده :
E-BOOK

17. Diagnosis and troubleshooting of automotive electrical, electronic, and computer systems /

پدیدآورنده :

کتابخانه: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)

موضوع : Automobiles-- Electric equipment-- Maintenance and repair,Automobiles-- Electronic equipment-- Maintenance and repair

رده :
TL272
.
H223
2012

18. ESD :

پدیدآورنده :

کتابخانه: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)

موضوع : Electric discharges,Electrostatics,Integrated circuits-- Protection,Integrated circuits-- Reliability,Integrated circuits-- Testing,Semiconductors-- Failures

رده :
TK7871
.
852
.
V65
2009

19. Electrical characterization of GaAs materials and devices

پدیدآورنده :

موضوع : Gallium arsenide semiconductors - Testing,Magnetoresistance

۲ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.

20. Electrical characterization of GaAs materials and devices

پدیدآورنده :

کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)

موضوع : Testing ، Gallium arsenide semiconductors,Magnetoresistance

رده :
TK
7871
.
15
.
G3
L66
1989